４分割フォトダイオードと通常の光学顕微鏡装置を用い、非常の高い精度（ナノメーターから数十ピコメーターの精度）で、微小物体の２次元位置変位を安定して計測できる装置を作ることができます。顕微鏡像の上では直接確かめるできない微小な運動、高速の運動の計測、分子スケールの運動解析に使うことのできる技術です。細胞運動や分子ゆらぎ、分子顕微操作の研究に使われています。
 

当研究室で は、現在、計測技術を数10 pm（0.05 nm）まで向上させることに成功しました。計測条件にもよりますが、以下のような性能検査が可能となっています。高精度性能検査の委託など、ご興味のある方は、適宜、ご相談下さい。⇒ 測定例　　　⇒研究室案内の頁 ・汎用型電動マイクロメーターヘッドの動作確認（最小ステップの精計計測、直進性・分解能・振動特性・バックラッシュ等の測定） ・精密ナノメーターステージの２次元動作確認 ・微小粒子（１μｍ程度の径）の精密振動計測

＜センサー回路使用上の注意＞回路図はこちら
  １）位置計測には関係しない余計な背景光が、光センサ（フォトダイオード）に入射することは極力避けるのが望ましい。フォトダイオードで光電流が発生するときの統計的なゆらぎ（ショットノイズ）が大きくなるためである。

詳しいことをお聞きになりたい方、質問などは、@ or @どうぞ。